Test di I/O (Nozioni fondamentali sui dispositivi)
I test di I/O dei concetti fondamentali del dispositivo eseguono test di I/O di base sui dispositivi specificati.
Test di I/O
Test | Descrizione |
---|---|
I/O del dispositivo |
Questo test esegue test di I/O di base nei dispositivi. Test binario: Devfund_Device_IO.wsc Metodo di test: DeviceIO Parametri: - vedere Parametri di test dei concetti fondamentali del dispositivo DQ TestCycles IOPeriod IOType |
Test di stress di I/O semplice con terminazione del processo di I/O |
Questo test esegue semplici test di I/O nei dispositivi in un processo separato e termina il processo di I/O dopo il periodo di I/O e i cicli di test specificati. Test binario: Devfund_SimpleIoStress_TermIoProc.wsc Metodo di test: SimpleIOStress_TermIoProc Parametri: - vedere Parametri di test dei concetti fondamentali del dispositivo DQ TestCycles IOPeriod |
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