CPUStress 測試 (裝置基本概念)
CpuStress 測試會使用不同的處理器使用率等級執行裝置 I/O 測試。
CpuStress
| 測試 | 描述 |
|---|---|
具有替代處理器使用率等級的裝置 I/O |
這項測試會在高 (HPU) 與低 (LPU) 處理器使用率等級之間交替時，執行裝置 I/O 測試。 測試二進位檔： Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 測試方法： Device_IO_With_Varying_ProcUtil 參數： - 請參閱 裝置基本概念測試參數 DQ PingPongPeriod HPU LPU TestCycles |
具有固定處理器使用率等級的裝置 I/O |
此測試會執行裝置 I/O 測試，並將處理器使用率 (PU) 層級設定為固定百分比。 測試二進位檔： Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 測試方法： Device_IO_With_Fixed_ProcUtil 參數： - 請參閱 裝置基本概念測試參數 DQ IOPeriod 鋪 |
具有固定處理器使用率等級的裝置 PNP |
此測試會執行裝置 PNP 測試，並將處理器使用率 (PU) 層級設定為固定百分比。 測試二進位檔： Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 測試方法： Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil 參數： - 請參閱 裝置基本概念測試參數 DQ TestCycles 鋪 |
具有固定處理器使用率的睡眠 |
此測試會將系統迴圈處理各種睡眠狀態，並將處理器使用率等級設定為固定百分比。 測試二進位檔： Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc 測試方法： Sleep_With_Fixed_ProcUtil 參數： - 請參閱 裝置基本概念測試參數 TestCycles 鋪 |