NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG結構 (nvme.h)

包含欄位，指定裝置自我測試記錄頁面中的資訊，描述裝置自我測試的狀態、完成百分比和結果。

這個結構是由 [取得記錄頁] 命令傳回。 如需詳細資訊，請參閱 NVME_CDW10_GET_LOG_PAGE。

語法

typedef struct {
  struct {
    UCHAR Status : 4;
    UCHAR Reserved : 4;
  } CurrentOperation;
  struct {
    UCHAR CompletePercent : 7;
    UCHAR Reserved : 1;
  } CurrentCompletion;
  UCHAR                             Reserved[2];
  NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA ResultData[20];
} NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG, *PNVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG;

成員

CurrentOperation

CurrentOperation 結構，其中包含描述目前裝置 Self-Test 作業的欄位。

CurrentOperation.Status

指出目前裝置 Self-Test 作業的狀態。

CurrentOperation.Reserved

CurrentOperation 結構中的保留欄位。

CurrentCompletion

CurrentCompletion 結構，其中包含描述裝置 Self-Test 作業完成的字段。

CurrentCompletion.CompletePercent

指出裝置 Self-Test 作業完成的百分比。 如果 CurrentOperation.Status 字段為非零，則此字段有效。

CurrentCompletion.Reserved

CurrentCompletion 結構中的保留欄位。

Reserved[2]

保留欄位。

ResultData[20]

20 個NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA 結構的數位，其中包含最後 20 個裝置 Self-Test 作業的結果數據，依最新到最舊的可用順序排序。

規格需求